Walter R. Schaden
Universitätsbuchhandlung & Antiquariat

Aven, Terje / Jensen, Uwe

Stochastic Models in Reliability.

Erscheinungsort: New York
Verlag: Springer
Erscheinungsjahr: 2013
Auflage: 2nd ed.
Format: Gr.-8°
Einband: Opbd.
Zustand: g.e.

(Stochastic Modelling and Applied Probability 41); XIV pp., 297 pp.

ISBN: 9781461478935
Sprache: Englisch

 18,00

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Gewicht 1000 g